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粒度儀
儀電物光WKL-702 顆粒圖像分析儀上海儀電物理光學(xué)
顆粒測(cè)量的顆粒分析儀器
將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合，是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和顆粒測(cè)量的顆粒分析儀器，由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將圖像傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對(duì)圖像進(jìn)行分析處理，具有直觀、形像、準(zhǔn)確和測(cè)量范圍寬等特點(diǎn)。
1、圖像多種處理方法：影像增強(qiáng)、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對(duì)比度、亮度調(diào)節(jié)、顆粒定位、自動(dòng)分割等幾十種功能。
2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測(cè)量。
3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù)，以線性或非線性統(tǒng)計(jì)方式繪出分布圖。
1、圖像多種處理方法：影像增強(qiáng)、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對(duì)比度、亮度調(diào)節(jié)、顆粒定位、自動(dòng)分割等幾十種功能。
2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測(cè)量。
3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù)，以線性或非線性統(tǒng)計(jì)方式繪出分布圖。
顆粒測(cè)量的顆粒分析儀器
| 儀器型號(hào) | WKL-702 |
|---|---|
| 測(cè)量范圍 | 0.1～3000（微米） |
| 總放大倍數(shù) | 8000倍 |
| 最大分辨率 | 0.1微米/像素 |
| 重復(fù)性 | 誤差≤±1％ |
| 自動(dòng)分割速度 | ≤1秒 |
| 數(shù)字?jǐn)z像機(jī)(CCD) | 500萬像素 |
| 數(shù)據(jù)儲(chǔ)存 | 電腦另配 |
| 通信接口 | USB |
| 操作系統(tǒng) | Windows 98/XP/7/8/10系統(tǒng)均可 |
| 電源 | AC220V ±10％ 200W |
| 儀器尺寸 | 270mmX410mmX440mm |
| 儀器凈重 | 15kg |
